平面近场测试系统

天线平面近场测试过程为使用一个特性已知的探头，在距离待测天线口面几个波长(一般为3-10λ)的平面上进行扫描，测量天线辐射场在该平面栅格点的幅度与相位分布，通过平面波展开得到被测天线的远场区的辐射特性，进而确定天线远场方向图。    

系统组成：

平面近场测试系统包括微波暗室屏蔽和吸波系统、机械子系统、射频子系统、控制与测试软件、数据处理软件等。机械子系统主要包含扫描架、扫描架控制器、探头极化旋转装置、各型号波导探头。射频子系统有发射、接收两部分。

应用场景：

高增益天线（增益≥15 dBi）的测量如反射面天线、卫星天线、相控阵天线、THz天线、微波输能天线等以及整星测试。

主要性能指标：

天线增益测试；

天线方向图：副瓣电平、波束宽度、差零深测试；

天线近场诊断功能测试；

多频点、多通道、多波位（波束数量＞5万个）测试功能；

相控阵通道校准、脉冲测试、DBF测试。

测试误差：

增益测量误差≤±0.3dB（不含标准增益喇叭自身误差）

                        -20dB副瓣时≤±0.8dB

                        -30dB副瓣时≤±2dB

                        -40dB副瓣时≤±3dB

幅度精度（RMS）：0.1dB

相位精度（RMS）：1°