柱面近场测试系统

柱面近场测量系统在辐射近场区的柱面上采集幅相信息，这种类型的测试系统适用于扇形波束和水平面为宽波束的天线。柱面近场采用开口波导或双极化天线作为接收探头,并通过柱面波展开的方式得到天线的远场辐射方向图。

系统组成：

柱面近场测试系统包括微波暗室屏蔽和吸波 系统、机械子系统、射频子系统、控制与测试软件、数据处理软件等。机械子系统主要包含扫描架、扫描架控制器、探头极化旋转装置、各型号波导探头。射频子系统有发射、接收两部分。

应用场景：

基站天线测试或水平面波束较宽且垂直面较窄的天线。

主要性能指标：

天线增益测试；

天线方向图：副瓣电平、波束宽度、差零深测试；

天线近场诊断功能测试；

多频点、多通道、多波位（波束数量＞5万个）测试功能；

相控阵通道校准、脉冲测试、DBF测试。

测试误差：

       增益测量误差≤±0.3dB（不含标准增益喇叭自身误差）

              -20dB副瓣时≤±0.8dB

              -30dB副瓣时≤±2dB

              -40dB副瓣时≤±3dB

       幅度精度（RMS）：0.1dB；

       相位精度（RMS）：1°；